Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2895052 obálek a 875008 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. I. Basics | |||||
Autor: Williams, David B. Hodnocení: 4.5 / 5 (6 hlasů) AnotaceThis groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams. Dostupné zdroje
|