Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150940 obálek a 950590 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application (Springer Series in Solid-State Sciences)
Rok: 2004
ISBN: 9783540211969
NKP-CNB: boa001-muni.000466212
OKCZID: 110055471
Citace (dle ČSN ISO 690):
CHANG, Shih-Lin. X-ray multiple-wave diffraction: theory and application. Berlin: Springer, c2004. xii, 431 s. Springer series in solid-state sciences, 143.
Anotace
This comprehensive text describes the fundamentals of X-ray multiple-wave interaction in crystals and its applications in condensed matter physics and crystallography. It covers current theoretical approaches and application methods for many materials, including macromolecular crystals, thin films, semiconductors, quasicrystals and nonlinear optical materials. X-ray optics is also addressed. Designed primarily as a reference for researchers in condensed matter, crystallography, materials science, and synchrotron-related topics, the book will also be useful as a textbook for graduate and senior-year undergraduate courses on special topics in X-ray diffraction.