Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152128 obálek a 950683 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Digital Systems Testing & Testable Design
Rok: 1994
ISBN: 9780780310629
OKCZID: 110156326
Citace (dle ČSN ISO 690):
ABRAMOVICI, Miron. Digital systems testing and testable design. Revised printing. New York: IEEE Press, c1990. xvii, 652 s.
Anotace
This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.