Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150393 obálek a 950589 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet: Degradation Behavior and Damage Mechanisms (Microtechnology and MEMS)
Rok: 2005
ISBN: 9783540226802
OKCZID: 110284938
Citace (dle ČSN ISO 690):
LI, Flora M. CCD image sensors in deep-ultraviolet: degradation behavior and demage mechanisms. Berlin: Springer, c2005. xi, 231 s. Microtechnology and MEMS.
Anotace
In order to facilitate the inspection of deep sub-micron features in integrated circuits, a new generation of semiconductor inspection systems is being pushed to new limits to image at ever shorter wavelengths - using deep-UV (DUV) sensitive cameras. However, conventional CCD cameras have very poor responsivity in the DUV and their stability upon prolonged DUV exposure is a relevant concern. This book investigates the causes of CCD degradation and the damage mechanisms due to DUV exposure, as well as reporting new results for device performance at these wavelengths.