Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152121 obálek a 950676 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Autor: Bubert, Hennig.
Rok: 2002
ISBN: 9783527304585
NKP-CNB: ddb963601334
OKCZID: 110306654
Citace (dle ČSN ISO 690):
BUBERT, H. Surface and thin film analysis: principles, instrumentation, applications. Weinheim: WILEY-VCH, 2002. xvii, 336 s.
Anotace
The development and quality assurance of such high-tech materials as semiconductors or biopolymers demand special analytical methods for surfaces and thin films. This book presents the whole spectrum of methods available in a clear manner, moving beyond the basics, equipment and applications to compare these methods. This allows users to find the optimum method in solving any given problem. - The book is richly illustrated with 200 figures - Almost 900 references guide to the primary literature - A list of suppliers, each with full address, makes it easy to obtain the required equipment