Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3299950 obálek a 1000634 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení =Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis
Autor: Tichopádek Petr
Rok: c2006
ISBN: 9788021431386
NKP-CNB: cnb001643216
OCLC Number: (OCoLC)85718801
OKCZID: 110697623
Citace (dle ČSN ISO 690):
TICHOPÁDEK, Petr. Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení =: Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis. [Brno: Vysoké učení technické], c2006, 31 s. Vě
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.