Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3143922 obálek a 948809 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Autor: Electronic Devices and Systems (konference), IMAPS CZ&SK, Vysoké učení technické v Brně, Noise and Non-Linearity Testing of Modern Electronics Components (workshop), Training in Innovative Technologies for the Development of Electronic Products (2005 : Br
NKP-CNB: cnb001629769
OKCZID: 127935953
Půjčte si tento titul v knihovně přes portál Knihovny.cz
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.