Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3160823 obálek a 952034 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Degradation processes in reliability
Autor: Waltraud Kahle, Sophie Mercier, Christian Paroissin
ISBN: 9781848218888
OKCZID: 128272576
Citace (dle ČSN ISO 690):
KAHLE, Waltraud. Degradation processes in reliability. First published. Hoboken: John Wiley & Sons, Inc., 2016. 211 stran. Mathematics and statistics series : mathematical models and methods in reliability set, 3.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.