Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2909842 obálek a 879336 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Defect and Microstructure Analysis by Diffraction (International Union of Crystallography Monographs on Crystal)

Rok: 2000
ISBN: 9780198501893
OKCZID: 110037259

Citace (dle ČSN ISO 690):
SNYDER, Robert L. Defect and microstructure analysis by diffraction. 1st ed. Oxford: Oxford University Press, 1999. xxii, 785 s. International union of crystallography book series.

Hodnocení: 5.0 / 5 (6 hlasů)


Anotace

Upravit anotaci
 

This book reviews the state of the art for determining the real structure of crystals, taking into account the irregularities and defects that work their way into all crystal arrangements. Understanding these defects is crucial for continued progress in developing new materials.


Dostupné zdroje

Amazon


Přidat komentář a hodnocení

Od: (127.0.0...)