Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150311 obálek a 950589 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Rok: 2005
ISBN: 9780387258003
OKCZID: 110757776
Citace (dle ČSN ISO 690):
EGERTON, Ray F. Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM, and AEM. corrected 3rd printing. New York: Springer, 2008. 202 s.
Anotace
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates who need to understand how the principles of physics apply in an area of technology that has contributed greatly to our understanding of life processes and "inner space." Physical Principles of Electron Microscopy will appeal to technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.