Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150940 obálek a 950590 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures
Autor: Ullrich Pietsch, Václav Holý, Tilo Baumbach
Rok: 2004
ISBN: 9780387400921
OKCZID: 110345949
Citace (dle ČSN ISO 690):
PIETSCH, Ullrich. High-resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures. 2nd ed. New York: Springer, c2004. xvi, 408 s.
Anotace
The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.