Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2913107 obálek a 881084 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. Part 1, Basics. Part 2, Diffraction. Part 3, Imaging. Part 4, Spectrometry

Autor: Williams, David Bernard
Rok: 2009
ISBN: 9780387765020
OKCZID: 110685872
Vydání: 2nd. ed.

Citace (dle ČSN ISO 690):
Transmission electron microscopy: a textbook for materials science. 2nd ed. New York: Springer, c2009. 4 sv.


Anotace

Upravit anotaci
 

This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment.


Dostupné zdroje

Amazon


Přidat komentář a hodnocení

Od: (127.0.0...)