Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3159119 obálek a 951465 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Defects in semiconductors :proceedings of the Materials Research Society Annual Meeting, November 1980, Copley Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Rok: c1981
ISBN: 9780444005960
OKCZID: 129430050
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.