Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152121 obálek a 950676 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Statistical analysis with ArcView GIS
Autor: Jay Lee, David W. S. Wong
Rok: 2000
ISBN: 9780471348740
OKCZID: 110048903
Citace (dle ČSN ISO 690):
LEE, Jay. Statistical analysis with arcview GIS. New York: John Wiley & Sons, 2000. xi, 192 s.
Anotace
Statistical techniques for dealing with quantitative data are important tools for every geographer. This is the first book to bring the traditional tools of quantitative geography into the GIS environment. Up to this point, existing books have relied on older software not widely found in a geography context. This brand new resource teaches professionals and students alike how to use their software in applying established statistical techniques.