Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2895566 obálek a 875351 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

ToF-SIMS : materials analysis by mass spectrometry

Autor: J. C. Vickerman, D. Briggs
ISBN: 9781906715175
OKCZID: 128293029

Citace (dle ČSN ISO 690):
VICKERMAN, J. C., ed. a BRIGGS, D., ed. ToF-SIMS: materials analysis by mass spectrometry. 2nd edition. Chichester, West Sussex, England: IM Publications, [2013]. vii, 732 stran.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)