Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150393 obálek a 950589 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
Autor: R. F. Egerton
ISBN: 9783319398761
OKCZID: 128362177
Citace (dle ČSN ISO 690):
EGERTON, R. Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM, and AEM. Second edition. Switzerland: Springer, [2016]. xi, 196 stran.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.