Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152735 obálek a 950729 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Rok: 1985
ISBN: 9783540135302
OKCZID: 110425455
Citace (dle ČSN ISO 690):
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. Berlin: Springer, 1985. xviii, 457 s. Springer series in optical sciences, 45.
Anotace
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.