Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152121 obálek a 950676 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences)
Rok: 1993
ISBN: 9783540568490
OKCZID: 110425454
Citace (dle ČSN ISO 690):
REIMER, Ludwig. Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. 3. ed. Berlin: Springer, 1993. xiii, 545 s. Springer series in optical sciences, 36.
Anotace
"Transmission Electron Microscopy" presents the theory of image and contrastformation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. Theprinciples of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also analysed are the kinetical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure determination and imaging of lattices and their defects. X-ray microanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. The third edition includes a brief discussionof Schottky emission guns, some clarification of minor details, and references to the recent literature.