Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150284 obálek a 950589 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis
Autor: Reimer Ludwig
Rok: 1998
ISBN: 9783540639763
OKCZID: 110124841
Vydání: 2nd completely rev. and updated ed.
Citace (dle ČSN ISO 690):
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. 2nd completely rev. and updated ed. Berlin: Springer, 1998. xiv, 527 s. Springer series in optical sciences, vol. 45.
Anotace
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.