Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2889774 obálek a 872473 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 9)



Rok: 2008
ISBN: 9783540740827
OKCZID: 110610681


Anotace

 

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is the first book to summarize the state-of-the-art of this technique. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

Zdroj anotace: OKCZ - ANOTACE Z WEBU



Dostupné zdroje

Amazon


Přidat komentář a hodnocení

Od: (127.0.0...)