Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2904739 obálek a 876171 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons

Autor: Mathias Schubert
ISBN: 9783642062285
OKCZID: 128909452

Citace (dle ČSN ISO 690):
SCHUBERT, Mathias. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: phonons, plasmons, and polaritons. 1st edition. Heidelberg: Springer, [2004]. xi, 193 stran. Springer tracts in modern physics, volume 209.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)