Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3152128 obálek a 950683 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons
Autor: Mathias Schubert
ISBN: 9783642062285
OKCZID: 128909452
Citace (dle ČSN ISO 690):
SCHUBERT, Mathias. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: phonons, plasmons, and polaritons. 1st edition. Heidelberg: Springer, [2004]. xi, 193 stran. Springer tracts in modern physics, volume 209.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.