Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2904739 obálek a 876171 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Kelvin probe force microscopy :measuring and compensating electrostatic roces

Rok: ©2012
ISBN: 9783642225659
OKCZID: 112345024

Citace (dle ČSN ISO 690):
SADEWASSER, Sascha, ed. a GLATZEL, Thilo, ed. Kelvin probe force microscopy: measuring and compensating electrostatic roces. Heidelberg: Springer, [2012]. xiv, 331 stran. Springer series in surface sciences, 48.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)