Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2909516 obálek a 879138 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Ellipsometry at the nanoscale

Autor: Maria Losurdo, Kurt Hingerl
ISBN: 9783642339554
OKCZID: 128692518

Citace (dle ČSN ISO 690):
LOSURDO, Maria, ed. a HINGERL, Kurt, ed. Ellipsometry at the nanoscale. Heidelberg: Springer-Verlag, c2013. xxiv, 730 s.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)