Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3150940 obálek a 950590 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Neparametričeskoje ocenivanije plotnosti :L-Podchod /
Autor: Devroye, Luc
ISBN: 9785030004754
OKCZID: 128719338
Citace (dle ČSN ISO 690):
DEVROYE, Luc. Neparametričeskoje ocenivanije plotnosti: L-Podchod. Moskva: Mir, 1988. 407 s.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.