Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3300430 obálek a 1000709 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Defektoskopie
Autor: Dubenský, Rudolf
Rok: 1992
ISBN: 9788001008447
NKP-CNB: cnb000068010
OCLC Number: (OCoLC)85682414
OKCZID: 128871238
Citace (dle ČSN ISO 690):
DUBENSKÝ, Rudolf. Defektoskopie - nedestruktivní zkoušení. Vyd. 2., přeprac. Praha: Ediční středisko ČVUT, 1992. 206 s.
Digitální objekty
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.