Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3300430 obálek a 1000709 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Určování tloušťky tenké vrstvy pomocí metod spektrální interferometrie a reflektometrie =Determination of the thin film thickness using spectral interferometry and reflectometry methods
Autor: Luňáček Jiří
Rok: 2010
ISBN: 9788001045589
NKP-CNB: cnb002107452
OCLC Number: (OCoLC)655155304
OKCZID: 110669656
Půjčte si tento titul v knihovně přes portál Knihovny.cz
Citace (dle ČSN ISO 690):
LUŇÁČEK, Jiří. Určování tloušťky tenké vrstvy pomocí metod spektrální interferometrie a reflektometrie =: Determination of the thin film thickness using spectral interferometry and reflectometry methods. V Praze: České vysoké učení technické, 2010,
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.
