Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2894435 obálek a 874683 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Chemické procesní inženýrství a simulační metody I : teoretické podklady

Autor: Tomáš Vaněk, Martin Kohout, Pavlína Basařová
ISBN: 9788075920836
NKP-CNB: cnb003321694
OKCZID: 128560833

Citace (dle ČSN ISO 690):
VANĚK, Tomáš. Chemické procesní inženýrství a simulační metody I: teoretické podklady. Vydání první. Praha: Vysoká škola chemicko-technologická v Praze, 2021. 249 stran.


Anotace

Přidat anotaci

Buďte první a doplňte chybějící anotaci.


Napište na knížku první komentář!

Od: (127.0.0...)