Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3299635 obálek a 1000501 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Nanometrology scanning probe microscopy and related techniques
Rok: 1994
ISBN: 9788085895025
NKP-CNB: cnb000102684
OCLC Number: (OCoLC)85658439
OKCZID: 110266817
Citace (dle ČSN ISO 690):
Nanometrology scanning probe microscopy and related techniques. Editor Pavel TOMÁNEK, editor Michel SPAJER. Brno: PC-DIR, 1994, 101 s. ISBN 80-85895-02-1.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.
