Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.

Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 2895052 obálek a 875008 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.

Registrovat »    Zapomenuté heslo?

Baan, Iwan

Nahlásit porušení duševního vlastnictví, nebo práva na ochranu soukromí.

Autor: Baan, Iwan
Rok: 1975-

Biogr./Hist. údaje: Nizozemský fotograf architektury.
Zdroj: Autoritní databáze Národní knihovny ČR

Iwan Baan

Iwan Baan (born February 8, 1975 in Alkmaar) is a Dutch architectural photographer. He has challenged a long-standing tradition of depicting buildings as isolated and static by representing people in architecture and showing the building's environment, trying "to produce more of a story or a feel for a project" and "to communicate how people use the space". He has photographed buildings by many of the world's most prominent architects, including Rem Koolhaas and Toyo Ito. He is "one of the most widely published" architectural photographers in the world. His candid "polysemic shots" have been compared to the work of Diane Arbus.In 2010, he won the first annual Julius Shulman Photography Award, named after the most famous architectural photographer of the 20th century.In 2012, he took the image of Manhattan after Hurricane Sandy that made the cover of New York magazine—showing light above 42nd St. and darkness below that line—illustrating vividly the storm's disparate impact. It was later turned into a limited edition print sold to benefit Sandy's victims.

Pro přidání, nebo úpravu fotografie autora se prosím přihlaste: