Vyhledávat v databázi titulů je možné dle ISBN, ISSN, EAN, č. ČNB, OCLC či vlastního identifikátoru. Vyhledávat lze i v databázi autorů dle id autority či jména.
Projekt ObalkyKnih.cz sdružuje různé zdroje informací o knížkách do jedné, snadno použitelné webové služby. Naše databáze v tuto chvíli obsahuje 3159119 obálek a 951465 obsahů českých a zahraničních publikací. Naše API využívá většina knihoven v ČR.
Spatial point patterns : methodology and applications with R
Autor: Adrian Baddeley, Ege Rubak, Rolf Turner
ISBN: 9781482210200
OKCZID: 124298890
Citace (dle ČSN ISO 690):
BADDELEY, Adrian. Spatial point patterns: methodology and applications with R. New York: CRC Press, Taylor & Francis Group, [2016]. xvii, 810 stran. Chapman & Hall/CRC interdisciplinary statistics series.
Anotace
Buďte první a doplňte chybějící anotaci.